天瑞X射線熒光光譜儀詳細產品資料介紹，天瑞X射線熒光光譜儀廠商咨詢服務，專業生產銷售XRF儀器X射線熒光光譜儀，包括:EDX1800B用于ROHS六大有害物質含量檢測，Thick800A用于金屬電鍍層厚度測試儀，Explorer5000用于金屬成分分析儀，explorer9000用于土壤重金屬含量檢測，EDX4500用于全元素含量分析。

天瑞1800b可在兩分鐘的時間內對電子電器及塑膠等產品的鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、鉻（Cr）以及溴（Br）五種元素含量。天瑞儀器秉承“無微不至”的精神,采用最新技術，特別設計EDX1800B型號的X射線熒光光譜儀。該系列產品在單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低采用行業最先進的數字多道技術。優勢：有效提高輸出效率，實現超高計數率，保證采集有效計數率最高可達1000Wcps，采用大功率X光管及先進的準直濾光系統，優勢：激發效率更高，樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度，精密的定位系統 ，超高清晰工業攝像頭，更清晰的顯示測試點，2D全自動移動樣品臺——可實現圖像聯動控制，多點連續測試，超小樣品檢測——最小可測到0.2毫米。作為一種快捷方便的光譜分析方法，EDX1800B被于重金屬四項和鹵素含量的掃描測試。儀器配有相應標準樣品。

THick800a X射線鍍層測厚儀可以滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求，黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自動定位測試高度；定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊，鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點，高分辨率探頭使分析結果更加精準，良好的射線屏蔽作用。測試口高度敏感性傳感器保護。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）。開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。