天瑞X射線熒光光譜儀詳細(xì)產(chǎn)品資料介紹，天瑞X射線熒光光譜儀廠商咨詢服務(wù)，專業(yè)生產(chǎn)銷售XRF儀器X射線熒光光譜儀，包括:EDX1800B用于ROHS六大有害物質(zhì)含量檢測，Thick800A用于金屬電鍍層厚度測試儀，Explorer5000用于金屬成分分析儀，explorer9000用于土壤重金屬含量檢測，EDX4500用于全元素含量分析。

天瑞1800b可在兩分鐘的時間內(nèi)對電子電器及塑膠等產(chǎn)品的鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、鉻（Cr）以及溴（Br）五種元素含量。天瑞儀器秉承“無微不至”的精神,采用最新技術(shù)，特別設(shè)計EDX1800B型號的X射線熒光光譜儀。該系列產(chǎn)品在單位時間內(nèi)接受信息多、計數(shù)率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低采用行業(yè)最先進(jìn)的數(shù)字多道技術(shù)。優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實現(xiàn)超高計數(shù)率，保證采集有效計數(shù)率最高可達(dá)1000Wcps，采用大功率X光管及先進(jìn)的準(zhǔn)直濾光系統(tǒng)，優(yōu)勢：激發(fā)效率更高，樣品更換無需關(guān)閉高壓，提高測試效率與測試精度，精密的定位系統(tǒng) ，超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測試點，2D全自動移動樣品臺——可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試，超小樣品檢測——最小可測到0.2毫米。作為一種快捷方便的光譜分析方法，EDX1800B被于重金屬四項和鹵素含量的掃描測試。儀器配有相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)樣品。

THick800a X射線鍍層測厚儀可以滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求，黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。

φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求，高精度移動平臺可精確定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自動定位測試高度；定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊，鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點，高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)，良好的射線屏蔽作用。測試口高度敏感性傳感器保護(hù)。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）。開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。雙激光定位裝置。