鍍層厚度測試儀天瑞儀器x熒光鍍層厚度測厚儀采用高度定位激光是一種物理分析方法,其分析與樣品的化學結合狀態無關。的詳細信息鍍層厚度測厚儀產品介紹,鍍層厚度測厚儀對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。可自動定位測試高度定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊。
通過鼠標可控制移動平臺,只要是點擊的位置就是被測點X射線光譜測厚儀應用于金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。如:貴金屬加工和首飾加工行業;銀行,首飾銷售和檢測機構;電鍍行業。工作條件 光譜色散元件——光柵由德國Zeiss制造,保證優異的光譜分辨能力 技術指標 分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) ,同時檢測元素:*多24個元素,多達五層鍍層。檢出限:可達2ppm,*薄可測試0.005μm,分析含量:一般為2ppm到99.9% 。鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%,穩定性:可達0.1%。SDD探測器:分辨率低至135eV |





























