X熒光分析儀EDX4500是一款比較高端適用的X射線熒光分析儀器,用于RoHS檢測、鍍層分析、貴金屬含量檢測、合金成分分析、礦石礦料分析等。X熒光分析儀快速無損,使用操作簡便。的詳細信息X熒光分析儀帶抽真空裝置 EDX4500 X射線熒光分析儀是利用XRF技術解決國內水泥廠、鋼鐵公司對復雜成份、材料中元素的快速、準確分析。
該技術的主要特征為:利用低能X光激發待測元素,對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發效果,并且測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率:采用UHRD探測器,具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;采用自動穩譜裝置,保證了儀器工作的一致性:利用解譜技術使譜峰分解,使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析精度;采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。 性能特點 專業的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。 技術指標 測量元素范圍:從鈉(Na)至鈾(U) 標準配置 電制冷UHRD探測器 應用領域 測試高爐渣、生鐵、燒結礦、球團礦、白云石、膨潤土、石灰石、普硅等,還可以廣泛應用于銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。 X熒光分析不帶抽真空裝置EDX1800B 二、 不帶抽真空裝裝置 天瑞X熒光分析儀EDX1800B儀器介紹
測ROHS/鹵素 鍍層 合金
針對EDX1800在各個領域的廣泛應用,根據優化產品性能和提高安全防護等級的需求,特別設計該款EDX1800B。應用新一代的高壓電源和X光管,提高產品的可靠性;利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。 性能特點 下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求 技術指標 元素分析范圍從硫(S)到鈾(U) 標準配置 移動樣品平臺 應用領域 RoHS檢測分析
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