x射線膜厚測(cè)試儀X射線膜厚測(cè)試儀是一種快速無(wú)損金屬厚度檢測(cè)儀器,是電鍍加工企業(yè)質(zhì)量控制的必備手段。目前,汽車零備件,通信連接件,PCB線路板,五金件等都需要X射線膜厚測(cè)試儀檢測(cè)鍍層厚度。的詳細(xì)信息X射線膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品介紹
X射線膜厚測(cè)試儀是一種操作方便,維護(hù)成本極低的鍍層檢測(cè)儀器,檢測(cè)精度比其他原理的測(cè)厚儀要高的多。 ![]() X射線膜厚測(cè)試儀含下列主要部件: (1)微焦斑X光管 資料:儀器使用說(shuō)明書(shū)(包括軟件操作說(shuō)明書(shū)和硬件使用說(shuō)明書(shū))、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。 標(biāo)準(zhǔn)附件
X射線膜厚測(cè)試儀性能: 滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求 |

























