產(chǎn)地：江蘇昆山
規(guī)格：X-ray測(cè)厚儀，非接觸式
公司所在地：江蘇蘇州
電話：13814856624 ,13814856624
X射線膜厚測(cè)試儀X射線膜厚測(cè)試儀可以對(duì)鍍件膜厚測(cè)試，結(jié)果準(zhǔn)確度高，速度快（幾十秒），其測(cè)試效果完全可以和顯微鏡測(cè)試法媲美的詳細(xì)信息天瑞X射線膜厚測(cè)試儀性能介紹及配置：
此型號(hào)為Thick800a  詳細(xì)配置信息： 一、硬件：主機(jī)壹臺(tái)，含下列主要部件： (1) X光管（牛津） (2)Si-PIN電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器（美國AMPTEK） (3) 信號(hào)檢測(cè)電子電路 (4) 高精度二維移動(dòng)平臺(tái) (5) 高清晰攝像頭 (6) 高低壓電源(SPELLMAN) (7) 開放式樣品腔 (8）雙激光定位裝置 (9) 鉛玻璃屏蔽罩 二、軟件及其他：天瑞X射線膜厚測(cè)試儀FpThick分析軟件V1.0 2.1 計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各一臺(tái) 計(jì)算機(jī)（聯(lián)想，內(nèi)存2G,硬盤500G液晶顯示屏19寸）、Intel Pentium G3220中央處理器 打印機(jī)（佳能，彩色噴墨打印機(jī)） 2.2 資料：器使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。 2.3 標(biāo)準(zhǔn)附件 準(zhǔn)直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可選其中一種） （已內(nèi)置于儀器中） 天瑞X射線膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品圖片：  性能描述： 滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求 φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求 高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度 定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊 鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn) 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn) 良好的射線屏蔽作用 測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù) 天瑞X射線鍍層測(cè)厚儀使用環(huán)境： 環(huán)境溫度要求：15℃-30 環(huán)境相對(duì)濕度：<70% 工作電源：交流220±5V 周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。 天瑞X射線鍍層測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)： 分析元素范圍：K-U 同時(shí)可分析多達(dá)5層鍍層 分析厚度檢出限最高達(dá)0.005μm 定位精度：0.1mm 測(cè)量時(shí)間：5s-300s 計(jì)數(shù)率：0-8000cps Z軸升降范圍：0-140mm X/Y平臺(tái)可移動(dòng)行程：50mm(W)×50mm(D)
銅鍍鎳件膜厚儀測(cè)試譜圖
銅鍍鎳件測(cè)試值 分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同） 應(yīng)用領(lǐng)域 X熒光鍍層厚度測(cè)試儀廣泛應(yīng)用于金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛(wèi)浴等行業(yè)。 天瑞儀器對(duì)X射線膜厚儀提供的售后服務(wù)體系： 軟件免費(fèi)升級(jí)：如有軟件升級(jí)，乙方將免費(fèi)提供升級(jí)軟件，如需上門升級(jí)按技術(shù)服務(wù)條款收取相關(guān)費(fèi)用；免費(fèi)保修1年， 免費(fèi)保修期內(nèi)，維修相關(guān)費(fèi)用全免； 技術(shù)服務(wù)的響應(yīng)期限：提供最有效的技術(shù)服務(wù)，在接到用戶故障信息后，4小時(shí)內(nèi)響應(yīng)；如有必要，12～72個(gè)小時(shí)內(nèi)派人上門維修和排除故障。 非乙方產(chǎn)品自身故障所造成的現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)服務(wù)（如增加測(cè)試功能和數(shù)據(jù)校正等），乙方將按技術(shù)服務(wù)條款收取相關(guān)費(fèi)用。由甲方人為造成的損傷不在上述保修條款中，具體事例雙方協(xié)商解決。 |
