產(chǎn)地：中華園西路1888號(hào)
規(guī)格：下招式
公司所在地：江蘇蘇州
電話：13814856624 ,13814856624
昆山rohs測(cè)試儀器昆山rohs測(cè)試儀器是由天瑞公司生產(chǎn)銷售的一款型號(hào)為EDX1800B的設(shè)備，作為國(guó)內(nèi)第一家分析儀器制造商的暢銷產(chǎn)品，昆山rohs測(cè)試儀器具有體積小，操作方便，檢測(cè)精度高等優(yōu)勢(shì)。的詳細(xì)信息rohs測(cè)試儀器EDX1800B是最經(jīng)濟(jì)有效的檢測(cè)設(shè)備，它自身靈敏、高效的特征決定了最適合生產(chǎn)過程的監(jiān)控之用。X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測(cè)試（鉛、鎘、鉻、砷、銻、鋇、汞、硒等）、包裝物料的有毒元素測(cè)試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71，測(cè)試結(jié)果精確度極高。X熒光光譜儀的檢測(cè)結(jié)果可以和化學(xué)檢測(cè)媲美，還大大節(jié)省儀器購(gòu)置成本、使用成本和檢測(cè)時(shí)間成本。目前天瑞X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導(dǎo)綠色生產(chǎn)過程中必不可少的檢測(cè)工具。
 更準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果是天瑞人堅(jiān)持不懈的追求，同時(shí)天瑞人還時(shí)刻牢記為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。全新開發(fā)研制的EDX 3000D正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX系列準(zhǔn)確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點(diǎn)，同時(shí)EDX 3000D還采用了天瑞儀器專利產(chǎn)品的信噪比增強(qiáng)器進(jìn)一步提升了檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。 性能特點(diǎn) 半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷 自動(dòng)濾光片選擇 多種準(zhǔn)直器自動(dòng)自由切換 三重安全保護(hù)模式 相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型 多變量非線性回歸程序 樣品腔自動(dòng)開關(guān) 軟件定位樣品平臺(tái)，最小位移 0.01 mm 自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，分別針對(duì)不同樣品 特別開發(fā)測(cè)量軟件，操作界面十分友好 內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時(shí)檢測(cè)樣品 高貴時(shí)尚的外型，帶給您全新的視覺沖擊 精準(zhǔn)的自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，更精確方便地調(diào)節(jié)樣品位置 采用天瑞儀器專利產(chǎn)品--信噪比增強(qiáng)器 SNE，大幅提高光譜儀測(cè)量的確定性和精確度 配合自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)全新開發(fā)的樣品定位系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)“點(diǎn)”哪測(cè)哪 鼠標(biāo)輕點(diǎn)樣品視圖中需要檢測(cè)部位，EDX 3000D 將移動(dòng)樣品至指定位置，完成檢測(cè)。 產(chǎn)品指標(biāo) 測(cè)試元素范圍：S-U中的元素； 探測(cè)器類型：Si-PIN電制冷 探測(cè)器分辨率：145eV 高壓范圍：0-50kV，50W X光管參數(shù)：0-50kV，50W側(cè)窗類； 光管靶材：Mo靶； 濾光片：4種復(fù)合濾光片自動(dòng)切換； 微移動(dòng)范圍：XY15mm 輸入電壓：AC220V，50/60Hz 開蓋方式：隨意自動(dòng)停 測(cè)試樣品種類：液體、固體和粉末 測(cè)量范圍：1ppm—99.99% 測(cè)量用時(shí)：120-400秒 測(cè)試環(huán)境：非真空測(cè)試 RoHS檢出限Pb≤5ppm，Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm， 準(zhǔn)直器：1mm 2mm 4mm
優(yōu)點(diǎn): 1、分析速度高 測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。 2、X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。 3、非破壞分析在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。 4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)屬同一族的元素能進(jìn)行分析。 |
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