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XRF分析儀XRF分析儀是檢測(cè)ROHS鹵素鍍層厚度含量的儀器,采用新型的半導(dǎo)體SDD探測(cè)器,極大的提高計(jì)數(shù)率,縮減了測(cè)試時(shí)間。的詳細(xì)信息作為國(guó)內(nèi)一流的XRF分析儀器制造廠商,天瑞儀器秉承精益求精的研發(fā)理念,利用現(xiàn)代半導(dǎo)體技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)發(fā)展起來(lái)的新一代XRF測(cè)試儀EDX1800B,能夠完美的解決ROHS環(huán)保指令涉及的有害物質(zhì)的快速測(cè)定。
![]() 分析檢出限可達(dá)1ppm;分析含量一般為1ppm到99.99%;任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型;相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型;多變量非線性回歸程序;溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃;電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源;能量分辨率:160±5eV;外觀尺寸: 550×416×333mm;樣品腔尺寸:460×298×98mm;重量:45Kg。儀器標(biāo)準(zhǔn)配置包括:移動(dòng)樣品平臺(tái);電制冷Si-PIN探測(cè)器;信號(hào)檢測(cè)電子電路;高低壓電源;大功率X光管;計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)。 ![]() ![]() |
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