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x射線熒光分析儀x射線熒光分析儀的特點是固體,液體,粉末,薄膜顆粒等都可以直接分享。 快速分析,得到結果只需幾秒。X射線熒光分析儀滿足各種復雜物質的定性,半定量,定量分析,只需簡單的培訓就能操作。的詳細信息X射線熒光分析儀的主要特征是利用智能真空系統,可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果,利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行精確分析,在冶煉過程控制中起到了測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率的作用。在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。高效超薄窗X光管,指標達到國際先進水平。最新的數字多道技術,讓測試更快,計數率達到100000CPS,精度更高。在合金檢測中效果更好。SDD硅漂移探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比。低能X射線激發待測元素,對Si、P等輕元素激發效果好。智能抽真空系統,屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的范圍。自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性。
![]() X射線熒光分析儀技術參數 產品型號:EDX 4500H 產品名稱:X熒光光譜儀 測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U) 元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同) 同時分析元素:一次性可測幾十種元素 測量時間:30秒-200秒 探測器能量分辨率為:145±5eV 管壓:5KV-50KV 應用領域: RoHS檢測分析 地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析 金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定 黃金、鉑金、銀等貴金屬的成分檢測。可廣泛應用于珠寶首飾中輕元素的檢測。 分析元素:金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥、鈉、鎂、鋁、硅、磷、硫等 x射線熒光分析儀核心配置, 美國Amptek原裝進口SDD探測器 數字多道分析器 放大電路、高低壓電源、高效X光管 計算機、打印機、真空泵(選配)、穩壓電源(選配) 軟件:貴金屬分析軟件(標配)、鍍層分析軟件Thick(選配)、ROHS有害元素分析軟件(選配)。 |
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