產(chǎn)品展示
X射線鍍層測(cè)厚儀：共搜索到103 個(gè)符合條件的產(chǎn)品
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹 |
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X熒光鍍層測(cè)厚儀的主要使用范圍 | X熒光鍍層測(cè)厚儀的主要使用范圍 |
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高壓電器鍍銀層測(cè)厚儀 | 高壓電器鍍銀層測(cè)厚儀配有專門針對(duì)鍍層厚度分析的應(yīng)用軟件，具有智能化、高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、自動(dòng)判斷是否超標(biāo)、操作簡(jiǎn)易、可實(shí)現(xiàn)邊測(cè)邊打功能等特點(diǎn)。 |
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高壓開關(guān)鍍銀層測(cè)厚儀 | 高壓開關(guān)鍍銀層測(cè)厚儀是使用全新大屏高分辨率液晶顯示屏及*數(shù)字多道數(shù)據(jù)處理器的便攜式手持鍍層測(cè)厚分析儀 可對(duì)大面積鍍層產(chǎn)品進(jìn)行膜厚分析，儀器不僅體積小、重量輕，可隨身攜帶進(jìn)行測(cè)量；而且性能堪比臺(tái)式機(jī)。 |
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高壓開關(guān)鍍銀層測(cè)厚儀 | 高壓開關(guān)鍍銀層測(cè)厚儀是使用全新大屏高分辨率液晶顯示屏及*數(shù)字多道數(shù)據(jù)處理器的便攜式手持鍍層測(cè)厚分析儀 可對(duì)大面積鍍層產(chǎn)品進(jìn)行膜厚分析，儀器不僅體積小、重量輕，可隨身攜帶進(jìn)行測(cè)量；而且性能堪比臺(tái)式機(jī)。 |
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天瑞儀器EDX600PLUS膜厚測(cè)試儀 | 膜厚測(cè)試儀EDX600PLUS是天瑞儀器集多年XRF熒光分析儀領(lǐng)域的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)而開發(fā)的一款功能強(qiáng)大的金屬鍍層厚度分析光譜儀，可自動(dòng)編程，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試。 |
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X熒光鍍層分析儀 | X熒光鍍層分析儀EDX2000A具有較小的測(cè)試光斑和較高的分辨率，能夠適應(yīng)微區(qū)、凹凸、拐角、弧面等各種樣品的快速對(duì)焦測(cè)試分析。X熒光鍍層分析儀用于半導(dǎo)體芯片PCB等行業(yè)。 |
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XRF鍍層膜厚儀 | XRF鍍層膜厚儀就是利用XRF熒光光譜儀對(duì)金屬鍍層的厚度檢測(cè)的設(shè)備，金屬鍍層測(cè)厚儀XRF具有快速測(cè)試，操作簡(jiǎn)單，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確等優(yōu)勢(shì)，是電鍍加工及下游企業(yè)的質(zhì)量管控的有效分析手段。 |
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X射線鍍層膜厚儀 | X射線鍍層膜厚儀EDX-T是一款上照式可測(cè)試小樣品的鍍層測(cè)試設(shè)備，帶雙攝像技術(shù)，三維移動(dòng)平臺(tái)，滿足凹面和拐角樣品的鍍層厚度分析。 |
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金屬鍍層測(cè)試儀 | 金屬鍍層測(cè)試儀是基于X射線熒光分析原理的膜厚測(cè)試儀器，能夠分析各種金屬鍍層的，單層，雙層，多層以及合金層鍍層的厚度。金屬鍍層測(cè)試儀產(chǎn)品資料和報(bào)價(jià)由江蘇天瑞儀器股份有限公司提供。 |
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鍍層厚度檢測(cè)儀 | 鍍層厚度檢測(cè)儀EDX2000A是由天瑞儀器推出的一款X射線熒光膜厚分析儀器，配備小準(zhǔn)直孔，上照式設(shè)計(jì)，滿足各種不規(guī)則小面積鍍層的厚度分析需求。 |